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Dionex IC技術説明会 2026
原理を理解し、実務に活かすIC分析力
当社は、イオンクロマトグラフの販売開始から50年にわたり、技術の進歩とともに多様な分析現場を支えてきました。ICを用いた分析で は、装置を操作できるだけでは安定した結果は得られません。試料に応じた分離条件の設計や検出手法の選択には、原理原則の理解 が不可欠です。
本セミナーでは、ICの装置構成やカラム内での分離現象、検出器の役割といった基礎から、分離メソッド設計におけるカラム選択や溶 離条件の考え方までを体系的に解説します。また、株式会社DNP科学分析センターの白石さまをお迎えし、複雑な試料中でのアミン類 の分離・同定事例や、IC単独では対応が難しかったケースへのアプローチなど、実例を通してIC-MS活用の具体的なポイントをご紹介い ただきます。さらに、共存成分が多い試料や微量成分分析を想定した流路制御の活用例、目的イオン検出のポイント、燃焼イオンクロマ トグラフィー（CIC）の原 理とThermo Scientific™ Cindion™ CICシステムを用いたシステム構成まで幅広く解説します。基礎から応用ま でを通して理解を深め、実務に活かせるIC分析の知識と設計の考え方を整理するセミナーです。皆さまのお越しをお待ち申し上げてお ります。
5/29（金） 名古屋（定員60名）ウインクあいち（1002）
お申し込み期限：5/22（金） 17:00まで
6/5（金） 広島（定員50名） エールエールA館（6階ROOM2）
お申し込み期限：5/29（金） 17:00まで
6/11（木） 大阪（定員100名） 千里ライフサイエンスセンター
お申し込み期限：6/4（木） 17:00まで
6/17（水） 東京（定員160名） 大崎ブライトコアホール
お申し込み期限：6/10（水）17:00まで
参加費用：無料
※会場によりプログラムが一部異なります。
※各会場とも先着順となります。定員に達し次第、お申し込み期限前でも受付を終了いたします
| 東京・大阪 | 名古屋・広島 | プログラム | |
| 12:30 | 受付開始 | ||
| 13:00～13:10 | オープニング | ||
| 13:10～14:10 | イオンクロマトグラフィーの基礎 当社 クロマトグラフィー＆ マススぺクトロメトリー事業本部 |
イオンクロマトグラフィー（IC）は多様な分野で利用され、対象となるサンプル も多岐にわたります。さまざまなサンプルに対応するには、基本原理の理解が欠 かせません。本講演では、ICを使い始めたばかりの方にも理解しやすいよう、IC の基本原理を解説します。ICの装置構成、カラム内で起こる分離現象、検出器の 役割など、日常の分析を行う上で知っておいていただきたい重要なポイントを中 心に説明します。 | |
| 14:10～14:50 | テクニカルレポートNo.2 「分離メソッド設計編」 当社 クロマトグラフィー＆ マススぺクトロメトリー事業本部 |
ICは多成分を同時に分析できる有効な手法である一方、試料組成によっては目 的成分の分離性能確保が課題です。本講演では、カラム選択や溶離条件など、 ピーク分離を中心とした基本的なメソッド設計の考え方を解説します。さらに、 共存成分が多い試料や目的成分が微量な試料を想定し、流路制御を活用したア プローチを紹介します。分離条件とシステム動作を工夫することで、実務に即し た分離メソッド設計の指針を示します。 | |
| 14:50～15:10 | 休憩／ポスター展示 | ||
| 15:10～15:50 | イオンクロマトグラフ-質量分析計 （IC-MS）による金属陽イオンと アミン分析 株式会社DNP科学分析センター 無機組成分析研究室 白石秀孝 さま |
近年、環境試料、生体試料、半導体材料など、様々な試料のアミン分析の問い合 わせが急増しています。しかし、ICだけではアミン類を十分に分離・同定できな いケースが少なくありません。そこで有効となるのが、イオンクロマトグラフ-質 量分析計(IC-MS)です。 陽イオンIC-MSの特徴は、金属陽イオンだけではなくアミン類の分離・検出にも 高い能力を発揮する点ですが、まだ広く認知されていないのが現状です。IC-MS を利用することで、試料中に含まれる複雑なイオン成分の分離・同定が可能とな り、正確かつ高感度に分析することが可能となりました。本発表では、アミン成 分を中心とした分析事例を交えながら陽イオンIC-MSの有用性を紹介します。 |
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| 15:10～15:50 | 試料中の目的イオン検出の ノウハウ 当社 クロマトグラフィー＆ マススぺクトロメトリー事業本部 |
ICはイオン測定に特化した分析手法であり、さまざまな試料溶液中のイオン分 析に広く用いられています。本講演では「検出」と「試料」という二つの視点か ら、ICにおけるイオン検出手法と試料測定時の重要なポイントを体系的に解説 します。さらに応用事例を交え、各分野で活用されている当社ICの有用性を紹 介するとともに、実務に役立つ知識を整理し、日常分析への応用につなげてい ただける内容です。 | |
| 15:50～16:20 | 燃焼して、集めて、測る：CICのプ ロセス 当社 クロマトグラフィー＆ マススぺクトロメトリー事業本部 |
燃焼イオンクロマトグラフィー（CIC）は、試料を燃焼によって無機イオンへ変 換し、ICで定量する分析手法です。本講演では「燃焼して、集めて、測る」という 考え方を軸に、その流れがどのように測定へとつながるのかを解説します。さら に、当社新製品Cindion CICシステムを例に、装置構成や取り扱いの基本に触 れながら、ICユーザーにとっての活用の広がりと実務への展開について紹介し ます。 | |
| 16:20～16:50 | イオンクロマトグラフにおける トラブルを早期解決するための 日常保守 当社 カスタマーサポート本部 |
ICを安定して使用するために、日常的に行うべき基本的な保守点検のポイントを 解説します。さらに、トラブルの予防につながる考え方を分かりやすくご紹介しま す。 | |
| 16:50～17:00 | 当社からの情報提供／クロージング | . | |
※1 講演テクニカルレポートNo.2は、昨年のテクニカルレポートNo.1をご受講されていない方でも問題なくご理解いただける内容です。参考資料として、昨年の講演スライド は講演の3日前に、講演資料とともにお送りします。
注意事項
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