As demand for oil and gas increases and reserves are depleted, efficient and effective extraction of hydrocarbons is more important than ever. From routine core plug screening to advanced multi-phase flow modeling, Thermo Fisher Scientific provides accurate, end-to-end solutions for oil and gas research and characterization. Whether you are starting a new digital rock analysis lab or expanding your existing characterization capabilities, we have the equipment, software, and expertise you need to maximize your potential from the start.

Core plug screening

A core analysis program is a substantial investment, and assessing the quality of core plugs before special core analysis and geomechanical testing ensures reservoir engineers, petrophysicists, and geologists obtain accurate and representative data before proceeding with further analysis.

High-resolution imaging offers a non-invasive method to inspect the internal structure of a sample. Thermo Scientific HeliScan microCT (micro-computed tomography) generates a 3D reconstruction of the core plug through one continuous helical X-ray scan. This provides a higher fidelity image than traditional microCT scans due to sophisticated reconstruction algorithms that reduce noise and amplify the signal. These core plug 3D images help petrophysicists and geologists perform multi-scale rock classification for improved understanding of stratigraphy, net to gross, fluid flow, and wireline log response.

  • Quickly evaluate sample heterogeneity
  • Assess sample contamination (e.g. drilling fluid invasion)
  • Determine structural integrity (free from damage caused by drilling)
  • Identify the presence and extent of microfractures

Reservoir quality analysis

Every operator has thousands of feet of old core stored in warehouses along with numerous cuttings and thin sections. A digital library of these samples, composed of 3D and 2D images, provides geologists a fast and statistically robust way of evaluating a play by examining previously obtained well cores. These digital rock models combine whole-core computed tomography, microCT, optical and scanning electron microscopy (SEM), and DualBeam technology (focused ion beam and SEM) data through image analysis and visualization software. Previously, these individual observations would be orphaned as traditional methods provide results without context and insight. Digital rock modeling offers analytical and characterization capabilities along with the ability to archive and rapidly share information. Most importantly, it links observed properties to the fundamental nature of the reservoir.

  • Obtain accurate clay speciation and textural context with a single method
  • Set up automated workflows to guarantee consistent, objective analysis
  • Increase confidence in the accuracy of your results
Core plug analyzed with a multi-modal approach revealing oil, porosity, and mineralogy.
Multi-modal analysis of a core plug with automatic identification of porosity, mineralogy, and oil inclusions.

Multi-scale analysis

Reservoir rocks are dominated by heterogeneity and laminations. To maximize the recovery of hydrocarbons from such reservoirs, accurate characterization of the rock micro-structure is required. This involves not only understanding of the individual rock types and laminations but also the interplay of the various rock types that make up the reservoir. Characterization of subsurface porosity, saturation, and wettability are critical for determining the type and volume of fluids that will be produced. Unfortunately, a single imaging tool cannot resolve both micro-scale pore connectivity and large-scale features.

In order to completely characterize these unconventional systems, multi-scale, multi-modal imaging is required. Thermo Fisher Scientific offers software solutions that correlate X-ray tomography and microscopy imaging with energy-dispersive X-ray spectroscopy (EDS) for elemental analysis. This combination of tools relates microscale observations to the sub-nanometer-scale 3D visualization of pore-system connectivity. It also generates wettability and in situ fluid saturation information, allowing you to upscale microscopic results to the core-plug and log scale.

  • Track the distribution of features accurately across scales
  • Create statistically valid datasets for representative, quantitative property assessment
  • Easily generate automated, objective acquisition and analysis workflows
Core plug analyzed with microCT and SEM at multiple scales.
Multiscale analysis of a core plug from millimeter-scale microCT analysis down to micrometer SEM imaging of two regions of interest.

Resources

Applications

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Investigación sobre materiales fundamentales

Se investigan nuevos materiales a escalas cada vez más pequeñas para lograr el máximo control de sus propiedades físicas y químicas. La microscopía electrónica proporciona a los investigadores información clave sobre una amplia variedad de características materiales a escala nanométrica.

 


Techniques

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Caracterización de materiales en 3D

El desarrollo de materiales suele requerir caracterización en 3D en varias escalas. Los instrumentos DualBeam permiten el corte en secciones en serie de grandes volúmenes y la posterior adquisición de imágenes SEM a escala de nanómetro, las cuales se pueden procesar en reconstrucciones 3D de la muestra de alta calidad.

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Espectroscopia de energía dispersiva

La espectroscopía de energía dispersiva (EDS) recopila información elemental detallada junto con imágenes de microscopía electrónica, proporcionando un contexto de composición esencial para las observaciones de EM. Con EDS, se puede determinar la composición química desde barridos de superficie rápidos y holísticos hasta átomos individuales.

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Análisis elemental EDS

EDS proporciona información de composición vital sobre las observaciones de microscopio electrónico. En concreto, nuestros exclusivos sistemas de detectores Super-X y Dual-X añaden opciones para mejorar el rendimiento y/o la sensibilidad, permitiendo optimizar la adquisición de datos para cumplir con sus prioridades de investigación.

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Tomografía EDS en 3D

La investigación de materiales modernos depende cada vez más del análisis a nanoescala en tres dimensiones. La caracterización en 3D, incluidos los datos de composición para el contexto químico y estructural completo, es posible con EM en 3D y espectroscopia de rayos X dispersiva.

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SEM ambiental (ESEM)

El SEM ambiental permite que se adquieran imágenes de los materiales en su estado nativo. Esto es ideal para investigadores académicos e industriales que necesitan probar y analizar muestras húmedas, sucias, reactivas, con liberación de gases o que no son compatibles con el vacío.

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Corte transversal

El corte transversal proporciona una visión adicional, ya que descubre información de la subsuperficie. Los instrumentos DualBeam tienen columnas FIB para poder realizar el corte transversal con alta calidad. Con la automatización, se puede realizar el procesamiento de muestras de alto rendimiento sin supervisión.

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Análisis de escala múltiple

Los novedosos materiales se deben analizar a una resolución cada vez mayor, manteniendo el contexto más amplio de la muestra. El análisis de escala múltiple permite la correlación de varias herramientas y modalidades de obtención de imágenes, tales como microTC de rayos X, DualBeam, PFIB láser, SEM y TEM.

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Caracterización de materiales en 3D

El desarrollo de materiales suele requerir caracterización en 3D en varias escalas. Los instrumentos DualBeam permiten el corte en secciones en serie de grandes volúmenes y la posterior adquisición de imágenes SEM a escala de nanómetro, las cuales se pueden procesar en reconstrucciones 3D de la muestra de alta calidad.

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Espectroscopia de energía dispersiva

La espectroscopía de energía dispersiva (EDS) recopila información elemental detallada junto con imágenes de microscopía electrónica, proporcionando un contexto de composición esencial para las observaciones de EM. Con EDS, se puede determinar la composición química desde barridos de superficie rápidos y holísticos hasta átomos individuales.

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Análisis elemental EDS

EDS proporciona información de composición vital sobre las observaciones de microscopio electrónico. En concreto, nuestros exclusivos sistemas de detectores Super-X y Dual-X añaden opciones para mejorar el rendimiento y/o la sensibilidad, permitiendo optimizar la adquisición de datos para cumplir con sus prioridades de investigación.

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Tomografía EDS en 3D

La investigación de materiales modernos depende cada vez más del análisis a nanoescala en tres dimensiones. La caracterización en 3D, incluidos los datos de composición para el contexto químico y estructural completo, es posible con EM en 3D y espectroscopia de rayos X dispersiva.

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SEM ambiental (ESEM)

El SEM ambiental permite que se adquieran imágenes de los materiales en su estado nativo. Esto es ideal para investigadores académicos e industriales que necesitan probar y analizar muestras húmedas, sucias, reactivas, con liberación de gases o que no son compatibles con el vacío.

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Corte transversal

El corte transversal proporciona una visión adicional, ya que descubre información de la subsuperficie. Los instrumentos DualBeam tienen columnas FIB para poder realizar el corte transversal con alta calidad. Con la automatización, se puede realizar el procesamiento de muestras de alto rendimiento sin supervisión.

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Análisis de escala múltiple

Los novedosos materiales se deben analizar a una resolución cada vez mayor, manteniendo el contexto más amplio de la muestra. El análisis de escala múltiple permite la correlación de varias herramientas y modalidades de obtención de imágenes, tales como microTC de rayos X, DualBeam, PFIB láser, SEM y TEM.

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Products

Hoja de estilo para tarjetas originales instrumentos

Helios Hydra DualBeam

  • 4 especies de iones rápidos conmutables (Xe, Ar, O, N) para el procesamiento optimizado de PFIB de la gama más amplia de materiales
  • Preparación de muestras de TEM sin GA
  • Adquisición de imágenes SEM de alta resolución

Helios 5 PFIB DualBeam

  • Preparación de muestras STEM y TEM sin galio
  • Subsuperficie multimodal e información 3D
  • Columna FIB con plasma xenón de 2,5 μA de última generación

Helios 5 DualBeam

  • Preparación de muestras de TEM ultrafina, de alta calidad y completamente automatizada
  • Subsuperficie de alto rendimiento, alta resolución y caracterización en 3D
  • Capacidades de rápida creación de prototipos a nanoescala

Scios 2 DualBeam

  • Soporte completo de muestras magnéticas y no conductoras
  • Subsuperficie de alto rendimiento y caracterización en 3D
  • Facilidad de uso y capacidades de automatización avanzadas

Quattro ESEM

  • Tecnología de obtención de imágenes por microscopía electrónica de barrido (SEM) con cañón de emisión de campo (FEG) de alta resolución con versatilidad absoluta y capacidad medioambiental única (ESEM)
  • Consulte la información completa de todas las muestras con obtención de imágenes SE y BSE en cada modo de funcionamiento

Apreo 2 SEM

  • SEM de alto rendimiento para resolución de subnanómetro o nanómetro completo
  • Detector de retrodispersión de T1 incorporado en la columna para contraste de materiales sensibles de velocidad TV
  • Excelente rendimiento en distancias de trabajo largas (10 mm)

Nexsa XPS

  • Módulo de basculación para mediciones de ARXPS
  • Fuente de iones de modo dual para capacidades de realización de perfiles de profundidad
  • Análisis de aislantes.

ESCALAB Xi+ XPS

  • Espectroscopía de alta sensibilidad.
  • XPS con fuente de rayos X no monocromática.
  • Analizador hemisférico de 180°.

K-Alpha XPS

  • Espectroscopía de área seleccionable.
  • Monocromador microfocalizado.
  • Espectroscopía del estado químico de alta resolución.

Software Maps

  • Adquiera imágenes de alta resolución en grandes áreas
  • Encuentre fácilmente áreas de interés
  • Automatice el proceso de adquisición de imágenes
  • Correlacione datos de diferentes fuentes

Athena Software
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