仕様
ベースライン平面度±0.0015 A(200~800 nm)
2.0 nm SBW、平滑化
光線中心高さ8.5 mm
サイズ(L☓W☓H)53 x 61 x 38 cm(20.8 x 24 x 14.9インチ)
ドリフト<0.0005 Abs/時間、500 nm、2.0 nm SBW、2時間ウォームアップ
電気的要件100~240 V、50~60 Hz
使用対象(アプリケーション)学術、化学、食品&飲料、化学環境、産業QA/QC、材料科学、医薬品
ランプ寿命>5 years or longer if not using live signal
ノイズ測光0A:<0.00018 A
1A:<0.00022 A
2A:<0.00050 A
500 nm、2.0 nm SBW、RMS
光学設計Modified Ebert;試料およびリファレンスキュベット/アクセサリーポジションを備えたダブルビーム
薬局方準拠試験波長確度: ±0.3 nm 190~900 nm
波長再現性: 10回測定のSD<0.1 nm
吸光度精度:1Aで<±0.010A、2Aで<±0.010A
吸光度再現性:±0.0025A@1A
迷光:KCl >2Aで198 nm、NaI >3Aで220 nm、アセトン>3Aで300 nm、NaNO2 >3Aで340 nmの分解能:1 nm SBW設定でピーク/トラフ比>1.8
光度計確度1A:±0.004 A, 2 A:±0.004 A. 3A:±0.006 .
測光ディスプレイ±6 A
測光範囲>4 A
測光再現性1A:±0.0025 A
スキャン縦座標モード吸光度、%透過率、%反射率、Kubelka-Munk、
Log(1/R)、log(Abs)、ABSx因子、強度、1~4次微分
スキャン速度可変、最高6000 nm/分
迷光198 nm:2.4 A KCl
220 nm:3.5 A NaI
340 nm:4.0 A NaNO2
保証3y Source Replacement Warranty
波長確度±0.20 nm(546.11 nm Hg発光ライン)、±0.30 nm 190~900 nm
波長データ間隔10、5、2、1、0.5、0.2、0.1、0.05 nm
波長反復性10回の測定の標準偏差<0.05 nm
重量 (ヤードポンド法)48.5 lbs(3.63 kg)
重量(メートル法)22 kg
検出器タイプデュアルマッチシリコンフォトダイオード
光源キセノンフラッシュランプ
標準寿命:>5年間。ライブ信号を使用しない場合は長くなります
保証期間:3年間のソース交換保証 スペクトルバンド幅選択可能0.5、1.0、1.5、2.0、4.0 nm
タイプUV-Vis Spectrophotometer
Wavelength Range190~1,100 nm
Unit SizeEach