仕様
ベースライン平面度±0.0010 A, 200 to 800 nm, 1.0 nm SBW, smoothing
認証/コンプライアンスISO 9001:2008
接続USB or RS-232
奥行き(ヤードポンド法)24.3 in.
奥行き(メートル法)62.2 mm
概要Evolution 201 Spectrophotometer plus Tablet Control Module - International
サイズ(L☓W☓H)62.2 x 48.6 x 27.9 cm (24 x 19 x 11 in.)
ドリフト<0.0005 A/hr., 500 nm, 1.0 nm SBW, 1 hr. warmup
電気的要件100/240 V, 50/60 Hz selected automatically, 150 W maximum
保持Cuvettes up to 100 mm
キーパッドSealed membrane
ランプ寿命7 years typical
ノイズ0A: <0.00015A;
1A:<0.00025A;
2A: <0.00080A;
260nm, 1.0nm SBW, RMS
光学設計Double Beam with sample and reference cuvette positions; Czerny-Turner Monochromator
薬局方準拠試験Resolution (Toluene in Hexane): ≥1.8A
Photometric Accuracy (60mg/L K2Cr2O7): ±0.010A
Stray Light: ≤1%T at 198nm: KCI; ≤0.05%AT at 220nm: Nal, Kl
Wavelength Accuracy: ±.5nm 541.9, 546.1nm Hg emission lines, ±0.8nm full range
Wavelength Repeatability: ≤0.05nm, repetitive scanning of 546.1nm Hg emission line
光度計確度1 A: ±0.006A, 2 A: ±0.010 A, Measured at 440 nm
測光ディスプレイ-0.3 to 4.0A
測光範囲>3.5A
測光再現性±0.0002 A
プロセッサーINSIGHT 2 Software is compatible with Windows™ 7 and Windows 8.1 Professional Editions
スキャン縦座標モードAbsorbance, % Transmittance, % Reflectance, Kubelka-Munk, log (1/R). log (Abs) Abs*, Intensity
スキャン速度<1 to 6000 nm/min. (Variable)
保証3 Years
ワット数150 W max.
波長確度±0.5 nm (541.9, 546.1 nm mercury lines), ±0.8 nm (full range 190 to 1100 nm)
波長データ間隔10, 5, 2, 1.0, 0.5, 0.2, 0.1 nm
波長反復性≤0.05 nm (546.1 nm mercury line, SD of 10 measurements)
重量(メートル法)14.4 kg
検出器タイプDual Silicon Photodiodes
ディスプレイNo Display
製品ラインEvolution 201
スペクトルバンド幅1 nm
タイプSpec,Tablet Module - INTL
Wavelength Range190 to 1100 nm
Unit SizeEach