최근 전자소재, 정밀화학, 기능성 소재 산업에서는 점점 더 복잡한 조성과 고순도 요구 수준이 높아지면서, 기존 UV 기반 HPLC 분석만으로는 충분한 정량 정확도와 재현성을 확보하기 어려운 사례가 증가하고 있습니다.

특히 발색단이 없거나 UV 흡광이 낮은 성분, 또는 복합 매트릭스 내 미량 비휘발성 성분의 정량 분석에서는 검출 선택성과 감도 한계가 주요 과제로 대두되고 있습니다.

이번 웨비나에서는 새롭게 출시된 Vanquish HPLC-CAD P 시리즈 검출기를 기반으로, Charged Aerosol Detector(CAD)의 범용 검출 원리를 소개하고, UV 비의존 정량이 제공하는 분석적 특성을 구체적으로 설명합니다.

더불어, 비휘발성·비발색단 성분 분석에서 발생하는 정량 편차를 최소화하고, 표준물질 확보가 어려운 환경에서도 적용 가능한 상대 정량 전략과 시스템 설정 팁을 공유합니다.

첨단 화학 소재 분석에서 신뢰도를 한 단계 높이고자 하는 분석 연구원 및 품질관리 담당자분들의 많은 참여를 부탁드립니다!