Messsysteme für Warmwalzwerke

Mit den Thermo Scientific™ Messsystemen für Warmwalzwerke verbessern Sie Ihre Prozessabläufe, erhöhen den Durchsatz im Walzwerk und ergreifen mit den Echtzeitdaten der Systeme zur Walzwalzregelung präventive Korrekturmaßnahmen. Warmwalzwerke benötigen zuverlässige, wiederholbare Prozesssteuerungsdaten, um Prozessprobleme zu erkennen, Produktgleichmäßigkeit zu gewährleisten und den Ausstoß zu erhöhen. Wir haben zwei Lösungen für eine vollständige Qualitätsüberwachung von Warmwalzwerken im Angebot. Das Thermo Scientific™ RM 215 HM Röntgendickenmesssystem ist eine flexible, robuste Plattform für die automatische Regelung oder adaptive Steuerung des Walzwerkes. Das Thermo Scientific™ SIPRO Simultanprofilmessgerät misst am Auslauf der Warmwalzstraße das Dickenprofil in Bandmitte und quer zum Band, Temperatur, Profil, Breite, Kantenanschärfung und Form des Bandes.

Zu den Thermo Scientific Messsystemen für Warmwalzwerke gehören folgende Produkte:

Thermo Scientific RM 215 HM Röntgendickenmesssystem

• Die C-Bügel und Sensoren sind speziell für die hohen Temperaturen, eindringende Feuchtigkeit und die raue Umgebung in Warmwalzwerken ausgelegt.

• Die Funktionen des Messsystems zum Temperatur- und Legierungsausgleich sorgen für präzise Messungen bei Edelstahl, HSLA-Stahl und anderen legierten Produkten

• Erforderlichenfalls werden Temperaturtabellen eingesetzt, um die sich ändernde Materialdichte bei Temperaturänderungen zu kompensieren.

Thermo Scientific SIPRO Simultanprofilmessgerät

• Ermöglicht eine hundertprozentige Materialcharakterisierung über die gesamte Produktlänge mit der schnellsten Profilaktualisierungsrate.

• Sehr schnelle, präzise Dimensionsmessungen ermöglichen Korrekturen von nicht maßhaltigen Produkten während des Walzprozesses, was Rohmaterialeinsparungen und die Walzoptimierung zur Folge hat.

• Mit einem robusten Rahmen aus Edelstahl. Wassergekühlte Abschirmungen an allen dem Band zugewandten Flächen schützen die Sensoren vor Hitze, Dampf und anderen beim Warmwalzen auftretenden Belastungen.

• Hohe Messauflösung der Querprofile und geschützte Algorithmen zur Berechnung der Bandplanheit über die gesamte Länge und Breite hinweg