Search
La microscopía electrónica (EM) tiene una amplia variedad de aplicaciones en la investigación forense. Numerosas pistas de la escena del crimen, incluyendo fragmentos de vidrio y pintura, marcas de herramientas, drogas, explosivos y residuos de armas de fuego (RSG) pueden ser analizados visual y químicamente con el microscopio electrónico de barrido (SEM). Las conclusiones basadas en este análisis son cruciales, ya que pueden establecer la naturaleza del crimen, así como quién estuvo involucrado.
Los investigadores a menudo se enfrentan con la tarea desalentadora de analizar escenas de crimen donde se utilizaron armas de fuego. El análisis de residuos de armas de fuego (RSG) es una técnica estándar para determinar si un individuo o un arma de fuego estuvo involucrada en el incidente en cuestión. El análisis de RSG establecido comienza con la inspección de SEM de partículas de RSG sospechosas, que tienen normalmente un tamaño de 0,5 a 10 micrómetros. Si se encuentra una partícula coincidente, se utiliza la espectroscopía de rayos X dispersiva de energía (EDS) dentro del SEM para identificar la composición química de esa partícula. Los criterios de búsqueda más comunes son la presencia de Plomo (Pb), Bario (Ba) y Antimonio (SB). Una vez que se confirma que una muestra es el resultado de un disparo, sus características pueden ser utilizadas como prueba en la investigación.
Normalmente, este tipo de análisis se realizaba manualmente, y el científico forense dedicaba un tiempo significativo a la caracterización y comparación de la prueba. El SEM de escritorio Phenom Perception GSR de Thermo Scientific es una exclusiva herramienta específicamente diseñada para el análisis de residuos de armas de fuego. El sistema cuenta con una automatización única que le permite acelerar el proceso de análisis, lo que lo hace más rápido, fácil y fiable. Ideal para cualquier laboratorio forense que desee ahorrar tiempo y espacio, el SEM de escritorio Phenom también se puede utilizar en muchas otras aplicaciones forenses, incluyendo balística, análisis de pintura y caracterización de fibras.
Gunshot residue particle analyzed with the Phenom GSR Desktop SEM.
Gunshot residue from a 9mm bullet cartridge analyzed with the Phenom GSR Desktop SEM.
Gunshot residue from a 9mm bullet cartridge analyzed with the Phenom GSR Desktop SEM.
Gunshot residue from a 9mm Luger cartridge analyzed with the Phenom GSR Desktop SEM.
Gunshot residue from a 9mm Luger cartridge analyzed with the Phenom GSR Desktop SEM.
Gunshot residue particle containing lead, antimony, and barium analyzed with the Phenom GSR Desktop SEM.
Gunshot residue particle analyzed with the Phenom GSR Desktop SEM.
Gunshot residue from a 9mm bullet cartridge analyzed with the Phenom GSR Desktop SEM.
Gunshot residue from a 9mm bullet cartridge analyzed with the Phenom GSR Desktop SEM.
Gunshot residue from a 9mm Luger cartridge analyzed with the Phenom GSR Desktop SEM.
Gunshot residue from a 9mm Luger cartridge analyzed with the Phenom GSR Desktop SEM.
Gunshot residue particle containing lead, antimony, and barium analyzed with the Phenom GSR Desktop SEM.
Investigación sobre materiales fundamentales
Se investigan nuevos materiales a escalas cada vez más pequeñas para lograr el máximo control de sus propiedades físicas y químicas. La microscopía electrónica proporciona a los investigadores información clave sobre una amplia variedad de características materiales a escala nanométrica.
Style Sheet for Techniques and Media Gallery Tab
_Technique_800x375_144DPI.jpg)
Análisis elemental EDS
EDS proporciona información de composición vital sobre las observaciones de microscopio electrónico. En concreto, nuestros exclusivos sistemas de detectores Super-X y Dual-X añaden opciones para mejorar el rendimiento y/o la sensibilidad, permitiendo optimizar la adquisición de datos para cumplir con sus prioridades de investigación.
Asignación elemental a escala atómica con EDS
El EDS de resolución atómica proporciona un contexto químico incomparable para el análisis de materiales al diferenciar la identidad elemental de los átomos individuales. Cuando se combina con TEM de alta resolución, es posible observar la organización precisa de los átomos en una muestra.
Análisis de partículas
El análisis de partículas juega un papel vital en la investigación de nanomateriales y el control de calidad. La resolución a escala nanométrica y la adquisición de imágenes superiores de microscopía electrónica se pueden combinar con software especializado para la rápida caracterización de polvos y partículas.
Análisis elemental EDS
EDS proporciona información de composición vital sobre las observaciones de microscopio electrónico. En concreto, nuestros exclusivos sistemas de detectores Super-X y Dual-X añaden opciones para mejorar el rendimiento y/o la sensibilidad, permitiendo optimizar la adquisición de datos para cumplir con sus prioridades de investigación.
Asignación elemental a escala atómica con EDS
El EDS de resolución atómica proporciona un contexto químico incomparable para el análisis de materiales al diferenciar la identidad elemental de los átomos individuales. Cuando se combina con TEM de alta resolución, es posible observar la organización precisa de los átomos en una muestra.
Análisis de partículas
El análisis de partículas juega un papel vital en la investigación de nanomateriales y el control de calidad. La resolución a escala nanométrica y la adquisición de imágenes superiores de microscopía electrónica se pueden combinar con software especializado para la rápida caracterización de polvos y partículas.
Hoja de estilo para tarjetas originales instrumentos
Style Sheet for Support and Service footer
Style Sheet for Fonts
Style Sheet for Cards
Servicios de microscopía electrónica para
la ciencia de materiales
Para garantizar un rendimiento óptimo del sistema, le proporcionamos acceso a una red de expertos de primer nivel en servicios de campo, asistencia técnica y piezas de repuesto certificadas.
