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A preparação de amostras para análise de microscopia eletrônica de varredura/transmissão (S/TEM) é considerada uma das tarefas mais críticas, porém desafiadora e demorada, em laboratórios de caracterização de materiais. Os métodos convencionais usados para preparar amostras ultrafinas necessárias para S/TEM são lentos, geralmente exigindo muitas horas ou até mesmo dias de esforço de pessoal altamente treinado. Isso é ainda mais complicado pela variedade de diferentes materiais e pela necessidade de informações específicas do local.
A Thermo Fisher Scientific se respalda em mais de 25 anos de experiência com a tecnologia DualBeam (FIB-SEM, feixe de íons focalizados – microscopia eletrônica de varredura) para oferecer ferramentas de preparação de amostras de ponta, acessíveis, robustas e confiáveis. Isso começa com uma coluna altamente estável e uma fonte de alta qualidade, que permitem um excelente desempenho mesmo em baixas tensões. O polimento final da lamela usando energias de até 500 V reduz significativamente os danos, mesmo em materiais sensíveis ao feixe, proporcionando uma qualidade de amostra incomparável. Para a preparação de amostras sem gálio, a Thermo Fisher Scientific tem um amplo portfólio de produtos FIB de plasma, incluindo o Helios Hydra DualBeam da Thermo Scientific, que oferece troca rápida entre quatro espécies de feixe de íons: xenônio, argônio, oxigênio e nitrogênio.
Adicionalmente, a tecnologia SmartAlign da Thermo Scientific elimina a necessidade de o usuário realizar qualquer alinhamento da coluna eletrônica, o que não só minimiza a manutenção, mas também aumenta a produtividade. Ferramentas de ajuste automático, incorporadas na interface do usuário, aumentam ainda mais a capacidade de obter imagens de alta qualidade, fazendo um ajuste da imagem até 10 vezes mais rápido do que o alinhamento manual padrão.
O hardware de qualidade é suportado por um conjunto de soluções de software que aprimoram e simplificam a preparação de amostras. O software AutoTEM 5 da Thermo Scientific possibilita a preparação e a retirada de lamelas totalmente automatizadas in situ, permitindo que até mesmo usuários iniciantes produzam amostras de qualidade. Isso expande muito a acessibilidade do instrumento, aumentando, assim, a produtividade, pois a preparação da amostra não depende mais de operação especializada. Além disso, a automação total permite a utilização máxima do tempo do sistema com a operação noturna autônoma, resultando em uma produtividade muito maior.
Preparação de amostra S/TEM com instrumentos DualBeam
1. Deposição eletrônica e de feixe de íons de proteção.
2. Fossos.
3. Subcorte e levantamento de lamela.
4. Afinamento da amostra.
5. Polimento final de baixa energia.
Example of a sample ready for in situ lift-out after chunking and undercutting, viewed both in the AutoTEM software interface and via SEM. The large fiducial on the side is used for chunking automation, while the smaller one on the lamella will be used later for final thinning automation.
Lamella made from a wide range of materials using a DualBeam. 1) Aluminum alloy, 2) an LED display, 3) cuprate superconductor Bi2212, 4) SrTiO₃, 5) a catalytic filter, and 6) polystyrene.
Comparison of gallium arsenide (GaAs) S/TEM sample prepared by Ga (left), Xe (middle), and Ar (right).
Aluminum sample, where a 5x6 array of S/TEM lamellas has been prepared with AutoTEM Software, fully unattended. Lamella were undercut and ready for lift-out in 6 hours.
Apresentação do Helios 5 DualBeam
Saiba como os recursos avançados de automação, o aumento da robustez e os aprimoramentos de estabilidade nos softwares Helios 5 e AutoTEM 5 podem aumentar significativamente a produtividade de preparação de amostras, permitindo uma operação autônoma e até mesmo uma operação noturna.
Example of a sample ready for in situ lift-out after chunking and undercutting, viewed both in the AutoTEM software interface and via SEM. The large fiducial on the side is used for chunking automation, while the smaller one on the lamella will be used later for final thinning automation.
Lamella made from a wide range of materials using a DualBeam. 1) Aluminum alloy, 2) an LED display, 3) cuprate superconductor Bi2212, 4) SrTiO₃, 5) a catalytic filter, and 6) polystyrene.
Comparison of gallium arsenide (GaAs) S/TEM sample prepared by Ga (left), Xe (middle), and Ar (right).
Aluminum sample, where a 5x6 array of S/TEM lamellas has been prepared with AutoTEM Software, fully unattended. Lamella were undercut and ready for lift-out in 6 hours.
Apresentação do Helios 5 DualBeam
Saiba como os recursos avançados de automação, o aumento da robustez e os aprimoramentos de estabilidade nos softwares Helios 5 e AutoTEM 5 podem aumentar significativamente a produtividade de preparação de amostras, permitindo uma operação autônoma e até mesmo uma operação noturna.
Controle de processo
A indústria moderna exige alta produtividade com qualidade superior, um equilíbrio mantido por meio de um controle de processo robusto. As ferramentas SEM e TEM com software de automação dedicado proporcionam informações rápidas e em várias escalas para monitoramento e aprimoramento de processos.
Controle de qualidade
O controle de qualidade e a garantia de qualidade são essenciais na indústria moderna. Oferecemos uma gama de ferramentas de microscopia eletrônica e espectroscopia para análises multidimensionais e multimodais de defeitos, permitindo que você tome decisões confiáveis e informadas para controle e melhoria de processos.
Pesquisa de materiais fundamentais
Novos materiais são investigados em escalas cada vez menores para o máximo controle de suas propriedades físicas e químicas. A microscopia eletrônica fornece aos pesquisadores percepções importantes sobre uma ampla variedade de características materiais em escala micro a nano.
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O desenvolvimento de baterias tornou-se possível pela análise em várias escalas com microTC, SEM e TEM, espectroscopia Raman, XPS e visualização e análise 3D digital. Saiba como essa abordagem fornece as informações estruturais e químicas necessárias para construir baterias melhores.
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A microestrutura de polímero determina as características e o desempenho do material em massa. A microscopia eletrônica permite uma análise abrangente micrométrica da morfologia e da composição do polímero para aplicações de Pesquisa e Desenvolvimento e de controle de qualidade.
Pesquisa de metais
A produção efetiva de metais requer um controle preciso de inclusões e precipitações. Nossas ferramentas automatizadas podem executar uma série de tarefas críticas para a análise de metais, incluindo: contagem de nanopartículas, análise química de EDS e preparação de amostras de TEM.
Pesquisa de catálise
Os catalisadores são essenciais para a maioria dos processos industriais modernos. Sua eficiência depende da composição e da morfologia microscópicas das partículas catalíticas. A EM com EDS é a técnica ideal para estudar essas propriedades.
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Para garantir o desempenho ideal do sistema, fornecemos acesso a uma rede de especialistas em serviços de campo, suporte técnico e peças de reposição certificadas.
