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XPS装置の概要
サーモフィッシャーサイエンティフィックは50年以上にわたり、学術および産業分野のお客様に表面分析装置を提供してきました。 当社の装置は、最先端の材料科学研究、製品開発、および不良解析に必要な性能を提供します。 当社の多様なポートフォリオは、ルーチンや高スループット測定から複雑な実験ワークフローまで、さまざまな用途に対応できるよう設計されています。
XPS 仕様
| K-Alphaシステム | Nexsa G2 システム |
Hypulse System | ESCALAB マイクロプローブ |
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XPS装置 能力 |
大面積XPS |  |
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| 微小領域XPS | |
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| XPSイメージング | |
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| SnapMap | |
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| 絶縁体分析用帯電中和システム | |
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| デプスプロファイリングのためのイオン源 | |
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| fs-laser for depth profiling | |
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| A角度依存XPS | オプション | オプション | オプション | |
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| 自動試料移送 | |
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オプション | |
| XPS装置の分析オプション | ラマン分光法 | オプション | オプション | ||
| MAGCISイオン源 | オプション | |
オプション | ||
| 反射電子エネルギー損失分光法（REELS） | オプション | |
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| 低エネルギーイオン散乱分光法（ISS/LEIS） | オプション | |
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| 紫外光電子分光法（UPS） | オプション | オプション | オプション | ||
| オージェ電子分光およびEDS | オプション | ||||
| 試料前処理オプション | オプション | オプション | オプション | ||
| 不活性試料移送 | オプション | オプション | オプション | オプション | |
| 高エネルギーX線源（HAXPES） | オプション |
For Research Use Only. Not for use in diagnostic procedures.