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한국에 소재한 당사의 NanoPort 고객 혁신 센터는 귀하의 지식과 기술을 발전시키면서 당사의 장비 & 솔루션을 탐색할 수 있는 기회를 제공하도록 설계된 우수한 전자 현미경(EM) 센터입니다. 몰입형 경험을 통해 제품 전문가와 소통하면서 Thermo Fisher Scientific 솔루션에 대한 심층적인 지식을 얻을 수 있습니다.
기흥 전자 현미경 센터
대한민국 경기도 용인시 기흥구
서천로 201번길 11, 107호
17111
전화: +82-1661-9003
팩스: +82-31-888-1830
한국 기흥의 NanoPort에서 무엇을 기대할 수 있습니까?
NanoPort 고객 혁신 센터에서는 전문가 주도의 워크숍에 참여하여 전자 현미경에 익숙해지고 자신의 시료를 사용할 수 있는 기기 데모에 참여하고 궁금한 점을 질문할 수 있으며 센터의 EM 전문가에게 배울 수 있는 등 다양한 이점을 제공합니다.
당사의 NanoPort Experience는 전자 현미경(EM)의 기능에 익숙하지 않거나 최신 개발 사항 및 기기에 대한 최신 정보를 찾고자 하는 분들의 니즈를 충족하고 편안한 구매 경험을 제공합니다.
기흥 NanoPort 고객 혁신 센터에는 다년간의 고객 현장 실무 경력을 갖춘 15명 이상의 전문가가 근무하고 있으며 대부분이 해당 분야의 박사 또는 석사 학위를 소지하고 있습니다.
Thermo Fisher는 분석 및 특성화에 관한 고객의 까다로운 니즈에 맞춰 당사의 기기, 소프트웨어 및 지식을 활용해 고객이 직접 시료를 NanoPort 고객 혁신 센터에 가져와 그 차이를 직접 경험하도록 권장합니다.
Thermo Fisher Scientific만의 차별화된 이점을 확인하십시오. 기흥 NanoPort CIC에서 사용할 수 있는 전문 지식과 분석 기법은 다음과 같습니다.
재료과학
반도체
생명과학
제논 플라즈마 집속 이온빔 현미경을 활용한 첨단 5nm 기술 기기에서의 새로운 디레이어링 공정, Ha Young Choi, SEO JKim1 및 Christopher H. Kang, Chun Cheng Tsao, STFA 2021: 제47회 국제 테스트 및 고장 분석 심포지엄 회보, p274
투과 전자 현미경으로 200개 이상의 레이어를 가진 VNAND에서 단면 채널 홀의 수직성에 대한 자동 계측, Dong-yeob Kim, Jong-ick Son, Christopher H Kang, STFA 2021: 제47회 국제 테스트 및 고장 분석 심포지엄 회보, p313
집속 이온빔을 사용한 3D NAND TEM 시료의 표적 레이어에서 셀 레이어의 계수 및 마킹 자동화, Jisu Ryu, Seojin Kim, Christopher H. Kang, STFA 2021: 제47회 국제 테스트 및 고장 분석 심포지엄 회보, p347
원자 프로브 단층촬영용 집속 이온빔 현미경으로 저 kV 세척으로 시료 깊이 자동 타겟팅, Woo Jun Kwon, Jisu Ryu,, Christopher H. Kang, Michael B. Schmidt,, Nicholas Croy, STFA 2020: 제46회 국제 테스트 및 고장 분석 심포지엄 회보, p299
In-Situ TEM 분석에서 Cu 층의 Ga 응집: 관찰 및 대체 솔루션, Seo-Jin Kim, Byung-Kyu Park, Christopher H. Kang, STFA 2020: 제46회 국제 테스트 및 고장 분석 심포지엄 회보, p325
한국 기흥 NanoPort 고객 혁신 센터에서 열리는 행사
워크숍: 특정 주제/산업에 초점을 맞춘 토론과 실무 작업의 조합으로, 참석자들이 자신의 지식과 경험을 공유하도록 장려합니다.
사내 강좌: 고객이 전자 현미경 응용 기술을 구축할 수 있도록 도와주는 실습 교육.
원격 교육: 실험실에서든, 원격으로든 상관없이 당사의 NanoPort 최고의 전문가가 제공하는 맞춤형 교육을 통해 고객이 원하는 곳에서 이용할 수 있습니다.
당사에 문의하여 이러한 행사의 비용과 예약 방법에 대해 자세히 알아보십시오.
Thermo Scientific Helios 5 HX DualBeam TEM 및 STEM 이미징 또는 원자 프로브 단층촬영을 위한 시료 준비. 고도의 자동화로 사용이 간편합니다. 고품질 표면하부 3D 특성 분석 가능. 반도체, 재료과학용
Thermo Scientific Helios 5 Laser PFIB (Plasma FIB) System 고처리량의 밀리미터 스케일 단면 및 나노미터 분해능의 3D 특성분석을 위해 플라즈마 집속 이온빔과 레이저 절제 도구가 결합되었음. 재료과학용
Thermo Scientific Apreo 2 SEM 고성능 재료 이미징 및 분석을 위한 다목적 주사 전자 현미경. 반도체, 재료과학, 생명과학용
Thermo Scientific Axia ChemiSEM 유연하고 사용이 간편하며 즉각적인 정량적 원소 분석을 제공하는 SEM EDS 기기. 재료과학용
구비 예정
새 기기에 대한 현장 교육은 시간이 많이 소요될 수 있으며 각 시설 및 실험실의 교육 요구 사항은 크게 다를 수 있습니다. 이러한 어려움을 해결하기 위해 당사는 세계 어디에 있든 최고의 응용 과학자와 교육 자료를 활용하여 교육을 제공하는 새로운 원격 응용 교육 프로그램을 개발했습니다.
데모 또는 교육 요청



