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Materials Science
SEM in Geology
SEM EDS is a vital part of multi-modal, multi-scale analysis of rocks and minerals.
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SEM mineral identification
Few disciplines rely as heavily on consistent, multi-scale observation and interpretation of features as the earth sciences. Everything from deep earth flow processes to more efficient methods of resource extraction are dependent on accurate sample characterization.
Thermo Fisher Scientific has built a family of imaging platforms and software solutions to facilitate data collection, visualization and analysis during complicated multi-modal, multi-scale characterization routines.
Petrology and mineralogy
Accurate textural analysis and the associated distribution of minerals within the rock texture are key to accurately describing the physical and chemical aspects of a rock system. Automated determination of mineralogy, based on scanning electron microscopy coupled with energy-dispersive X-ray spectroscopy (SEM-EDS), has established itself as a popular method for acquiring high-resolution images and chemical maps in the mining and mineral processing industries. Thermo Fisher Scientific has a 30-year history of delivering market-leading SEM-EDS technology. Here are just a few of the advantages afforded by our petrology and mineralogy solutions;
- Expand the number of samples that can be processed with routine petrologic and mineralogic analysis
- Build a strong statistical repository of mineral content based on automated analysis
- Automatically obtain accurate mineralogical identification
- Create a digital inventory of your thin sections and associated mineral assemblages
- Combine EDS elemental analysis, mineralogy and high-resolution imagery for advanced sample interpretation
- Analyze more samples for more robust statistics
Multi-scale analysis with geoscience software
While context is vital for textural analysis, it is especially important for geological or structural interpretation. Electron imaging captures a large number of modalities in a single acquisition, allowing for direct interpretation of composition and texture. However, simply observing a single frame, or even a series of images, out of context reduces the power of this analysis.
We provide a suite of automation software developed with the express purpose of preserving context. Thermo Scientific Maps Software is the cross-platform automation engine for our full line of electron microscopy imaging platforms. Maps Software takes the pain out of acquiring larger image mosaics within an easy to use and intuitive software environment.
- Preserve context with large, automatically acquired, high-resolution datasets
- Utilize system time efficiently
- Share observations with context for more collaborative data interpretation
Chemical zonation in a plagioclase feldspar sample. Albite is shown in dark blue, labradorite is shown in light blue.
Multi-scale analysis of a sandstone sample. The left image is a slice from a microCT dataset, the right 3 images are from subsequent SEM analysis that interrogated the clay mineralogy present in the pores.
Cross-section overview of the major rock types, revealing varied mineral and structural distribution.
Surface analysis of a rock cross-section. A single mineralogical dataset from SEM-EDS analysis is uniquely capable of telling a rich story on texture and composition.
Multi-scale analysis of a core plug with X-ray microtomography (microCT) and SEM. The initial sample, plus the extracted mini plug, were imaged with HeliScan microCT. A cross-section of the mini plug was then imaged with SEM. The SEM data has been correlated and segmented with Avizo Software.
Chemical zonation in a plagioclase feldspar sample. Albite is shown in dark blue, labradorite is shown in light blue.
Multi-scale analysis of a sandstone sample. The left image is a slice from a microCT dataset, the right 3 images are from subsequent SEM analysis that interrogated the clay mineralogy present in the pores.
Cross-section overview of the major rock types, revealing varied mineral and structural distribution.
Surface analysis of a rock cross-section. A single mineralogical dataset from SEM-EDS analysis is uniquely capable of telling a rich story on texture and composition.
Multi-scale analysis of a core plug with X-ray microtomography (microCT) and SEM. The initial sample, plus the extracted mini plug, were imaged with HeliScan microCT. A cross-section of the mini plug was then imaged with SEM. The SEM data has been correlated and segmented with Avizo Software.
Fundamental Materials Research
Novel materials are investigated at increasingly smaller scales for maximum control of their physical and chemical properties. Electron microscopy provides researchers with key insight into a wide variety of material characteristics at the micro- to nano-scale.
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Caractérisation des matériaux 3D
Le développement de matériaux nécessite souvent une caractérisation 3D multi-échelle. Les instruments DualBeam permettent la coupe en série de grands volumes et l’imagerie par SEM subséquente à l’échelle du nanomètre, qui peut être traitée en reconstructions 3D de haute qualité de l’échantillon.
_Technique_800x375_144DPI.jpg)
Analyse élémentaire par EDS
L’EDS fournit des informations de composition essentielles aux observations du microscope électronique. Nos systèmes de détection Super-X et Dual-X uniques offrent en particulier des options supplémentaires pour un débit et/ou une sensibilité améliorés, ce qui vous permet d’optimiser l’acquisition de données pour répondre à vos priorités de recherche.
_Technique_800x375_144DPI.jpg)
Tomographie par EDS 3D
La recherche moderne sur les matériaux dépend de plus en plus de l’analyse à l’échelle nanométrique en trois dimensions. La caractérisation 3D, y compris les données de composition pour un contexte chimique et structurel complet, est possible grâce à la spectroscopie à rayons X à dispersion d’énergie et l’EM 3D.
Coupe transversale
La coupe transversale donne des informations supplémentaires en révélant des informations sur les sous-surfaces. Les instruments DualBeam sont dotés de colonnes à faisceau d’ions focalisé supérieures pour une coupe transversale de haute qualité. Grâce à l’automatisation, un traitement sans surveillance à haut débit des échantillons est possible.
Analyse multi-échelle
Les nouveaux matériaux doivent être analysés à une résolution toujours plus élevée tout en conservant le contexte plus large de l’échantillon. L’analyse multi-échelle permet d’établir une corrélation entre divers outils et modalités d’imagerie tels que la microCT à rayons X, le DualBeam, le PFIB laser, la SEM et la TEM.
Caractérisation des matériaux 3D
Le développement de matériaux nécessite souvent une caractérisation 3D multi-échelle. Les instruments DualBeam permettent la coupe en série de grands volumes et l’imagerie par SEM subséquente à l’échelle du nanomètre, qui peut être traitée en reconstructions 3D de haute qualité de l’échantillon.
Analyse élémentaire par EDS
L’EDS fournit des informations de composition essentielles aux observations du microscope électronique. Nos systèmes de détection Super-X et Dual-X uniques offrent en particulier des options supplémentaires pour un débit et/ou une sensibilité améliorés, ce qui vous permet d’optimiser l’acquisition de données pour répondre à vos priorités de recherche.
Tomographie par EDS 3D
La recherche moderne sur les matériaux dépend de plus en plus de l’analyse à l’échelle nanométrique en trois dimensions. La caractérisation 3D, y compris les données de composition pour un contexte chimique et structurel complet, est possible grâce à la spectroscopie à rayons X à dispersion d’énergie et l’EM 3D.
Coupe transversale
La coupe transversale donne des informations supplémentaires en révélant des informations sur les sous-surfaces. Les instruments DualBeam sont dotés de colonnes à faisceau d’ions focalisé supérieures pour une coupe transversale de haute qualité. Grâce à l’automatisation, un traitement sans surveillance à haut débit des échantillons est possible.
Analyse multi-échelle
Les nouveaux matériaux doivent être analysés à une résolution toujours plus élevée tout en conservant le contexte plus large de l’échantillon. L’analyse multi-échelle permet d’établir une corrélation entre divers outils et modalités d’imagerie tels que la microCT à rayons X, le DualBeam, le PFIB laser, la SEM et la TEM.
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