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Grano mineral de aluminio encontrado con SEM durante las pruebas de limpieza de piezas
La continua innovación y mejora de los componentes fabricados depende de la capacidad de los fabricantes para crear productos de forma rápida y fiable sin sacrificar la calidad. Con unos estándares de pulcritud cada vez mayores, se requieren análisis cada vez más exhaustivos de las piezas para garantizar que cumplen estas altas expectativas. Además, la pulcritud de la superficie de los componentes es fundamental para la adhesión de recubrimientos y tratamientos adicionales, directamente relacionados con la calidad final de la pieza. De hecho, se ha demostrado que la pulcritud se correlaciona tan estrechamente con la tasa de fallos de campo que la Asociación Alemana de la Industria Automotriz (VDA) y la Organización Internacional de Normalización (ISO) desarrollaron normas integrales específicamente diseñadas para caracterizar la pulcritud de los componentes de automoción.
En general, esto significa que las metodologías comunes para la pulcritud técnica, que ofrecen detalles analíticos limitados, pueden ser innecesariamente restrictivas. Inevitablemente, esto lleva a un mayor tiempo de diagnóstico, ya que los fabricantes intentan encontrar el origen de la contaminación a partir de información incompleta, lo que aumenta el coste de fabricación de la pieza. Mientras tanto, el microscopio electrónico de barrido/la espectroscopía de rayos X dispersiva de energía (SEM/EDX) proporciona la composición química de las partículas individuales. Esto permite al fabricante establecer diferentes límites de pulcritud para las partículas que son más perjudiciales para el componente, mientras que los límites para las partículas benignas pueden ser menos estrictos.
Thermo Fisher Scientific ofrece una gama de instrumentos y software que no solo simplifica el análisis de pulcritud, sino que también reduce considerablemente el tiempo de producción a medida que se incorpora el proceso de control de calidad. Al dejar de depender de la subcontratación para su análisis de control de calidad, el tiempo de ciclo de producción puede multiplicarse hasta diez veces, al tiempo que le proporciona la tranquilidad de controlar sus datos valiosos y confidenciales.
10-micron silicon-rich particle found during the cleaning of a manufactured component. Such small but hard particles can result in premature wear of the part.
Aluminum shaving found during cleanliness analysis.
Aluminum sliver, several 100 micrometers in length, generated due to wear of a part as it was used. Shape and chemistry of debris provides valuable information on part degradation and cleanliness over time.
Cotton fiber, with embedded mineral particles, imaged during cleanliness analysis.
10-micron silicon-rich particle found during the cleaning of a manufactured component. Such small but hard particles can result in premature wear of the part.
Aluminum shaving found during cleanliness analysis.
Aluminum sliver, several 100 micrometers in length, generated due to wear of a part as it was used. Shape and chemistry of debris provides valuable information on part degradation and cleanliness over time.
Cotton fiber, with embedded mineral particles, imaged during cleanliness analysis.
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Espectroscopia de energía dispersiva
La espectroscopía de energía dispersiva (EDS) recopila información elemental detallada junto con imágenes de microscopía electrónica, proporcionando un contexto de composición esencial para las observaciones de EM. Con EDS, se puede determinar la composición química desde barridos de superficie rápidos y holísticos hasta átomos individuales.
_Technique_800x375_144DPI.jpg)
Análisis elemental EDS
EDS proporciona información de composición vital sobre las observaciones de microscopio electrónico. En concreto, nuestros exclusivos sistemas de detectores Super-X y Dual-X añaden opciones para mejorar el rendimiento y/o la sensibilidad, permitiendo optimizar la adquisición de datos para cumplir con sus prioridades de investigación.
Análisis de partículas
El análisis de partículas juega un papel vital en la investigación de nanomateriales y el control de calidad. La resolución a escala nanométrica y la adquisición de imágenes superiores de microscopía electrónica se pueden combinar con software especializado para la rápida caracterización de polvos y partículas.
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La espectroscopía de energía dispersiva (EDS) recopila información elemental detallada junto con imágenes de microscopía electrónica, proporcionando un contexto de composición esencial para las observaciones de EM. Con EDS, se puede determinar la composición química desde barridos de superficie rápidos y holísticos hasta átomos individuales.
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