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Multi scale microscopy workflow plot showing microCT, PFIB, and TEM
Plot of volume and resolution that can be analyzed by various instruments
in the multi-scale analysis workflow.

As materials continue to advance, it is becoming increasingly important to not only examine them at ever-higher resolutions but to obtain these observations within the relevant macroscopic context. This necessitates correlating different imaging modes to the same coordinates for truly contextual insight. Measurements must also be obtained quickly enough for practical application in real-world process control and failure analysis environments. Thermo Fisher Scientific offers a complete workflow for the observation of materials, combining correlated imaging at various scales with additional information such as chemical composition.

Multi-scale analysis begins with micro-scale observation with non-destructive spectroscopic techniques. X-ray microtomography (microCT) produces a complete, 3D rendering of the sample through serial X-ray scans. These scans, or 2D tomograms, are digitally combined to form the 3D structure. With Thermo Scientific Heliscan MicroCT, the series of circular scans is replaced by a single, continuous helical scan. This allows for faster scanning at a lower dose, increasing the accuracy and amount of information obtained. MicroCT observations can provide resolution as low as 400 nm, making it an ideal tool for non-destructive surveying of the sample prior to higher resolution characterization.

Once a region of interest is identified, DualBeam (focused ion beam and scanning electron microscopy, FIB-SEM) instrumentation is used for closer surface analysis and sample extraction. (Note that the focused ion beam can consist of a liquid metal ion source (gallium) or a plasma FIB.) The SEM enables nanoscale surface analysis while the FIB/PFIB is used for serial sectioning, or to extract a thin sample lamella for further observation with transmission electron microscopy (TEM). The addition of a femtosecond laser to the PFIB-SEM allows for even more rapid sample preparation, cross-sectioning or serial sectioning. Subsequent TEM analysis provides atomic-scale materials characterization for complete insight into a sample’s elemental and structural composition.

True multi-scale microscopy generates high quality and reliable imaging across all instruments while also accurately aligning them into a complete representation of the sample. With Thermo Scientific automation and data analysis software, the entire multi-scale workflow becomes a guided and routine procedure that can be readily integrated into your process or quality control environment.

Multi scale microscopy workflow plot showing software and hardware
The multi-scale analysis workflow offered by Thermo Fisher Scientific integrating software and hardware.
*Maps is not directly integrated with mCT, it can load processed CT data.
**AutoScript is not available yet on HeliScan and TEM microscopes.

Resources

HeliScan MicroCT analysis used in the correlative study of defects in an oil filter casing made of a glass-fiber-reinforced composite.

Characterizing material failure of an additively manufactured Inconel 718 part with multi-scale analysis. Performed in collaboration with the University of Manchester.

HeliScan MicroCT analysis used in the correlative study of defects in an oil filter casing made of a glass-fiber-reinforced composite.

Characterizing material failure of an additively manufactured Inconel 718 part with multi-scale analysis. Performed in collaboration with the University of Manchester.

Applications

Qualitätskontrolle und Fehleranalyse mittels Elektronenmikroskopie

Qualitätskontrolle und Fehleranalyse

Qualitätskontrolle und Qualitätssicherung sind in der modernen Industrie von entscheidender Bedeutung. Wir bieten eine Reihe von EM- und Spektroskopiegeräten für die mehrskalige und multimodale Analyse von Mängeln, mit denen Sie zuverlässige und fundierte Entscheidungen für die Kontrolle und Verbesserung von Prozessen treffen können.

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Grundlagenforschung in der Materialforschung

Neuartige Materialien werden in immer kleineren Dimensionen untersucht, um ihre physikalischen und chemischen Eigenschaften bestmöglich zu kontrollieren. Die Elektronenmikroskopie gibt Forschern wichtige Einblicke in eine Vielzahl von Materialeigenschaften auf der Mikro- bis Nanoebene.

 


Samples


Batterieforschung

Die Entwicklung von Batterien wird durch die Multiskalen-Analyse mit Mikro-CT, REM und TEM, Raman-Spektroskopie, XPS und digitaler 3D-Visualisierung und 3D-Analyse ermöglicht. Erfahren Sie, wie dieser Ansatz die strukturellen und chemischen Informationen liefert, die für den Bau besserer Batterien benötigt werden.

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Polymerforschung

Die Mikrostruktur von Polymeren bestimmt die Eigenschaften und die Leistungsfähigkeit des Materials. Die Elektronenmikroskopie ermöglicht eine umfassende Analyse der Morphologie und Zusammensetzung von Polymeren im Mikroskalenbereich für Anwendungen in der F+E und Qualitätskontrolle.

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Metallforschung

Die effektive Produktion von Metallen erfordert eine präzise Kontrolle von Einschlüssen und Ausscheidungen. Unsere automatisierten Geräte können eine Vielzahl von Aufgaben ausführen, die für die Metallanalyse wichtig sind, einschließlich der Zählung von Nanopartikeln, der chemischen Analyse mittels EDS und der Vorbereitung von TEM-Proben.

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Katalyseforschung

Katalysatoren sind für einen Großteil der modernen industriellen Prozesse von entscheidender Bedeutung. Ihre Effizienz hängt von der mikroskopischen Zusammensetzung und Morphologie der katalytischen Partikel ab; EM mit EDS eignet sich ideal für die Untersuchung dieser Eigenschaften.

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Öl und Gas

Da die Nachfrage nach Öl und Gas anhält, besteht ein ständiger Bedarf an einer effizienten und effektiven Gewinnung von Kohlenwasserstoffen. Thermo Fisher Scientific bietet eine Reihe von Mikroskopie- und Spektroskopielösungen für eine Vielzahl von Anwendungen in der Petrochemie an.

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Geologische Forschung

Die Geowissenschaften beruhen auf einer konsistenten und präzisen, mehrskaligen Beobachtung von Merkmalen in Gesteinsproben. Die REM-EDS ermöglicht in Kombination mit Automatisierungssoftware eine direkte, umfangreiche Analyse der Textur und Mineralzusammensetzung für die petrologische und mineralogische Forschung.

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Fasern und Filter

Durchmesser, Morphologie und Dichte synthetischer Fasern sind wichtige Parameter, die die Lebensdauer und Funktionalität eines Filters bestimmen. Die Rasterelektronenmikroskopie (REM) ist die ideale Technologie für die schnelle und einfache Untersuchung dieser Merkmale.

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Materialprüfung für die Automobilindustrie

Jedes Bauteil in einem modernen Fahrzeug ist auf Sicherheit, Effizienz und Leistung ausgelegt. Die detaillierte Charakterisierung von Materialien für Automobile mittels Elektronenmikroskopie und Spektroskopie liefert Informationen für wichtige Prozessentscheidungen, Produktverbesserungen und neue Materialien.

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Products

Formatvorlage für das Original der Instrumentenkarten

Helios Hydra DualBeam

  • 4 schnell schaltbare Ionenspezies (Xe, Ar, O, N) für die optimierte PFIB-Verarbeitung unterschiedlichster Materialien
  • Ga-freie TEM-Probenvorbereitung
  • REM-Bildaufnahme mit extrem hoher Auflösung

Helios 5 PFIB DualBeam

  • Galliumfreie STEM- und TEM-Probenvorbereitung
  • Multimodale Untergrund- und 3D-Informationen
  • 2,5-μA-Xenonplasma-FIB-Säule der nächsten Generation

SCIOS 2 DualBeam

  • Umfassende Unterstützung von magnetischen und nicht leitenden Proben
  • Untergrund- und 3D-Charakterisierung im Hochdurchsatz
  • Erweiterte Anwenderfreundlichkeit und Automatisierungsfunktionen

Spectra Ultra

  • Neue bildgebende und spektroskopische Funktionen für die strahlenempfindlichsten Materialien
  • Ein Fortschritt in der EDS-Detektion mit Ultra-X
  • Säule zur Aufrechterhaltung der Probenintegrität.

Spectra 300

  • Höchste Auflösung struktureller und chemischer Informationen auf atomarer Ebene
  • Flexibler Hochspannungsbereich von 30 bis 300 kV
  • Kondensorsystem mit drei Linsen

Spectra 200

  • Hochauflösende und kontrastreiche Bildgebung für Beschleunigungsspannungen von 30 bis 200 kV
  • Symmetrische S-TWIN/X-TWIN-Objektivlinse mit breitem Polstück-Design von 5,4 mm
  • Sub-Angström-STEM-Bildauflösung von 60 bis 200 kV

Talos F200S TEM

  • Präzise Daten zur chemischen Zusammensetzung
  • Leistungsstarke Bildgebung und präzise Kompositionsanalyse für die dynamische Mikroskopie
  • Mit Velox Software für die schnelle und einfache Erfassung und Analyse multimodaler Daten

Talos F200i TEM

  • Hochwertige R/TEM-Bilder und präzise EDS
  • Erhältlich mit Dual-EDS-Technologie
  • Beste Allround-in-situ-Funktionen
  • Bildgebung mit großem Sichtfeld bei hoher Geschwindigkeit

Talos F200C TEM

  • Die flexible EDS-Analyse offenbart chemische Informationen
  • Kontrastreiche, hochwertige TEM- und STEM-Bildgebung
  • Die Ceta 16-Megapixel-CMOS-Kamera bietet ein großes Sichtfeld und eine hohe Auslesegeschwindigkeit

Talos F200X TEM

  • Hohe(r) Auflösung/Durchsatz bei der STEM-Bildaufnahme und chemischen Analyse
  • Mit In-situ-Probenhaltern für dynamische Experimente
  • Mit Velox Software für die schnelle und einfache Erfassung und Analyse multimodaler Daten

AutoTEM 5

  • Vollautomatische In-situ-R/TEM-Probenvorbereitung
  • Unterstützung für Top-down-, planare und invertierte Geometrien
  • Hochgradig konfigurierbarer Arbeitsablauf
  • Anwenderfreundliche, intuitive Benutzeroberfläche

Auto Slice and View 4.0 Software

  • Automatisierte serielle Schnittführung für DualBeam
  • Multimodale Datenerfassung (REM, EDS, EBSD)
  • Echtzeit-Bearbeitungsfunktionen
  • Kantenbasierte Schnittplatzierung

Avizo Software
Materialwissenschaft

  • Unterstützung für Multidaten/Multiansicht, Multikanal, Zeitreihen, sehr große Datenmengen
  • Erweiterte automatische 2D/3D-Registrierung im Multimodus
  • Algorithmen zur Artefaktreduzierung

Maps Software

  • Erfassung hochaufgelöster Bilder über große Bereiche hinweg
  • Einfache Suche der gewünschten Regionen
  • Automatisierung des Bilderfassungsprozesses
  • Korrelierung von Daten aus verschiedenen Quellen
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