Filters are commonplace in today’s society, and fulfill critical functions in industry and the household, ranging from air filters that give you clean, breathable air to water filters that ensure you have safe, potable tap water.

The key to high-performance filtration is the development of synthetic fibers. To optimize a filter’s design (so it continues to filter a broad range of dry or wet particulates over time), features like fiber diameter, density, and surface morphology all need to be thoroughly characterized and optimized.

Traditional methods for fiber analysis, such as optical microscopy and atomic force microscopy (AFM), are insufficient for this multi-modal analysis. Optical microscopy lacks the resolution necessary to accurately study nanofibers, whereas AFM is too slow and suffers from physical probe issues. These methods also rely on slow, manual measurement and data analysis.

Scanning electron microscopy (SEM), meanwhile, offers exceptional resolution capabilities, and allows you to automatically characterize multiple fibers at the same time. With the addition of leading automation software, critical filter parameters can be extracted rapidly and reliably. This minimizes the time spent using SEM in the lab, increasing development throughput as you can quickly and easily analyze fibers for filtration design.

Thermo Fisher Scientific offers a range of SEM instrumentation for fiber analysis. When combined with Thermo Scientific FiberMetric Software, accurate, automated measurement of micro- and nanofiber properties is possible.

Electrospun imaged with Phenom Desktop SEM.
Electrospun nanofibers on a paper substrate, imaged with a Phenom Desktop SEM.
Dust filter imaged with Phenom Desktop SEM.
Fibers from a dust filter imaged with a Phenom Desktop SEM.

Resources

Applications

Process Control_Thumb_274x180_144DPI

Control de proceso
 

La industria moderna exige un alto rendimiento con una calidad superior, un equilibrio que se mantiene a través de un control de procesos sólido. Las herramientas SEM y TEM con software de automatización exclusivo proporcionan información rápida y multiescala para la supervisión y la mejora de procesos.

 

Quality Control_Thumb_274x180_144DPI

Control de calidad
 

El control y garantía de calidad son esenciales en la industria moderna. Ofrecemos una gama de herramientas de EM y espectroscopía para el análisis multiescala y multimodal de defectos, lo que le permite tomar decisiones fiables e informadas para el control y la mejora de procesos.

 

Fundamental Materials Research_R&D_Thumb_274x180_144DPI

Investigación sobre materiales fundamentales

Se investigan nuevos materiales a escalas cada vez más pequeñas para lograr el máximo control de sus propiedades físicas y químicas. La microscopía electrónica proporciona a los investigadores información clave sobre una amplia variedad de características materiales a escala nanométrica.

 

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Techniques

Caracterización de materiales en 3D

El desarrollo de materiales suele requerir caracterización en 3D en varias escalas. Los instrumentos DualBeam permiten el corte en secciones en serie de grandes volúmenes y la posterior adquisición de imágenes SEM a escala de nanómetro, las cuales se pueden procesar en reconstrucciones 3D de la muestra de alta calidad.

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Análisis elemental EDS

EDS proporciona información de composición vital sobre las observaciones de microscopio electrónico. En concreto, nuestros exclusivos sistemas de detectores Super-X y Dual-X añaden opciones para mejorar el rendimiento y/o la sensibilidad, permitiendo optimizar la adquisición de datos para cumplir con sus prioridades de investigación.

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ColorSEM

Mediante la utilización de EDS en tiempo real (espectroscopia de rayos X por dispersión de energía) con cuantificación en tiempo real, la tecnología ColorSEM transforma las imágenes SEM en una técnica de color. Cualquier usuario puede adquirir datos elementales de forma continua para obtener información más completa que nunca.

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Corte transversal

El corte transversal proporciona una visión adicional, ya que descubre información de la subsuperficie. Los instrumentos DualBeam tienen columnas FIB para poder realizar el corte transversal con alta calidad. Con la automatización, se puede realizar el procesamiento de muestras de alto rendimiento sin supervisión.

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Caracterización de materiales en 3D

El desarrollo de materiales suele requerir caracterización en 3D en varias escalas. Los instrumentos DualBeam permiten el corte en secciones en serie de grandes volúmenes y la posterior adquisición de imágenes SEM a escala de nanómetro, las cuales se pueden procesar en reconstrucciones 3D de la muestra de alta calidad.

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Análisis elemental EDS

EDS proporciona información de composición vital sobre las observaciones de microscopio electrónico. En concreto, nuestros exclusivos sistemas de detectores Super-X y Dual-X añaden opciones para mejorar el rendimiento y/o la sensibilidad, permitiendo optimizar la adquisición de datos para cumplir con sus prioridades de investigación.

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ColorSEM

Mediante la utilización de EDS en tiempo real (espectroscopia de rayos X por dispersión de energía) con cuantificación en tiempo real, la tecnología ColorSEM transforma las imágenes SEM en una técnica de color. Cualquier usuario puede adquirir datos elementales de forma continua para obtener información más completa que nunca.

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Corte transversal

El corte transversal proporciona una visión adicional, ya que descubre información de la subsuperficie. Los instrumentos DualBeam tienen columnas FIB para poder realizar el corte transversal con alta calidad. Con la automatización, se puede realizar el procesamiento de muestras de alto rendimiento sin supervisión.

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Products

Hoja de estilo para tarjetas originales instrumentos

SEM de escritorio Phenom Pharos

  • Fuente FEG con un rango de tensión de aceleración desde 2 hasta 15 kV
  • Resolución de <2,5 nm (SE) y <4,0 nm (BSE) @ 15 kV; aumento de hasta 1.000.000x
  • Detector de EDS y SE, totalmente integrado, opcional

SEM de escritorio Phenom XL G2

  • Para muestras grandes (100 x 100 mm) e ideal para automatización
  • Resolución de <10 nm y aumento de hasta 200.000x; tensión de aceleración desde 4,8 kV hasta 20 kV
  • Detector de EDS y BSE, totalmente integrado, opcional

SEM de escritorio Phenom Pro

  • SEM de escritorio de alto rendimiento
  • Resolución de <8 nm (SE) y <10 nm (BSE); aumento de hasta 150.000x
  • Detector SE opcional

SEM de escritorio Phenom ProX

  • SEM de escritorio de alto rendimiento con detector EDS integrado
  • Resolución de <8 nm (SE) y <10 nm (BSE); aumento de hasta 150.000x
  • Detector SE opcional
 
 

SEM de escritorio Phenom Pure

  • SEM de escritorio de nivel básico
  • Resolución de <25 nm; aumento de hasta 65.000x
  • Fuente CeB6 de larga duración

SEM de escritorio Phenom ParticleX AM

  • SEM de escritorio versátil con software de automatización para fabricación de aditivos
  • Resolución de <10 nm; aumento de hasta 200.000x
  • Detector SE opcional

SEM de escritorio Phenom ParticleX TC

  • SEM de escritorio versátil con software de automatización para pulcritud técnica
  • Resolución de <10 nm; aumento de hasta 200.000x
  • Detector SE opcional

SEM de escritorio Phenom Perception GSR

  • SEM de escritorio GSR automatizado exclusivo
  • Resolución de <10 nm; aumento de hasta 200.000x
  • Fuente CeB6 de larga duración

Nexsa XPS

  • Módulo de basculación para mediciones de ARXPS
  • Fuente de iones de modo dual para capacidades de realización de perfiles de profundidad
  • Análisis de aislantes.

K-Alpha XPS

  • Espectroscopía de área seleccionable.
  • Monocromador microfocalizado.
  • Espectroscopía del estado químico de alta resolución.

ESCALAB Xi+ XPS

  • Espectroscopía de alta sensibilidad.
  • XPS con fuente de rayos X no monocromática.
  • Analizador hemisférico de 180°.

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